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T1  - A CBED study of sapphire-substrate quality with respect to HREM applications

JO  - ELECTRON MICROSCOPY 1998, VOL 3

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AU  - Mobus G

AU  - Weickenmeier A

AU  - Marien J

AU  - Gemming T

AU  - Kramer S

AU  - Mayer J

AU  - Kostlmeier S

AU  - Elsasser C

ED  - Benavides HAC

ED  - Yacaman MJ

SP  - 771

EP  - 772

Y2  - 2024/12/26

ER  -