TY  - JOUR

T1  - Metal-Induced Trap States: The Roles of Interface and Border Traps in HfO2/InGaAs

JO  - Micromachines

UR  - http://dx.doi.org/10.3390/mi14081606

PY  - 2023/08/15

AU  - Do H-B

AU  - Luc Q-H

AU  - Pham PV

AU  - Phan-Gia A-V

AU  - Nguyen T-S

AU  - Le H-M

AU  - De Souza MM

ED  - 

DO  - DOI: 10.3390/mi14081606

PB  - MDPI AG

VL  - 14

IS  - 8

SP  - 1606

EP  - 1606

Y2  - 2025/01/13

ER  -