TY  - JOUR

T1  - High-resolution transmission electron microscopy on silicon carbide whiskers

JO  - Interface Science

PY  - 1993/01/01

AU  - Benaissa M

AU  - Werckmann J

AU  - Ehret G

AU  - Guille J

AU  - Peschiera E

ED  - 

DO  - DOI: 10.1007/BF00203598

VL  - 1

IS  - 2

SP  - 91

EP  - 98

Y2  - 2024/10/23

ER  -