TY  - CONF

T1  - Failure analysis studies in pseudomorphic SiGe channel p-MOSFET devices

JO  - Microscopy of Semiconducting Materials

PY  - 2005/01/01

AU  - Chang ACK

AU  - Ross IM

AU  - Norris DJ

AU  - Cullis AG

AU  - T Tang Y

AU  - Cerrina C

AU  - Evans AGR

ED  - Cullis AG

ED  - Hutchison JL

VL  - 107

SP  - 413

EP  - 416

Y2  - 2024/12/26

ER  -