TY  - JOUR

T1  - Avalanche noise characteristics of thin GaAs structures with distributed carrier generation

JO  - IEEE T ELECTRON DEV

UR  - http://eprints.whiterose.ac.uk/907/

PY  - 2000/05/01

AU  - Li KF

AU  - Ong DS

AU  - David JPR

AU  - Tozer RC

AU  - Rees GJ

AU  - Plimmer SA

AU  - Chang KY

AU  - Roberts JS

ED  - 

VL  - 47

IS  - 5

SP  - 910

EP  - 914

Y2  - 2024/12/26

ER  -