TY  - JOUR

T1  - Characterization of the FFC Cambridge Process for NiTi Production Using In Situ X-Ray Synchrotron Diffraction

JO  - J ELECTROCHEM SOC

PY  - 2010/01/01

AU  - Jackson BK

AU  - Dye D

AU  - Inman D

AU  - Bhagat R

AU  - Talling RJ

AU  - Raghunathan SL

AU  - Jackson M

AU  - Dashwood RJ

ED  - 

DO  - DOI: 10.1149/1.3299369

VL  - 157

IS  - 4

SP  - E57

EP  - E63

Y2  - 2024/10/24

ER  -