TY  - JOUR

T1  - Effect of rapid thermal annealing on threading dislocation density in III-V epilayers monolithically grown on silicon

JO  - Journal of Applied Physics

PY  - 2018/06/07

AU  - Li W

AU  - Chen S

AU  - Tang M

AU  - Wu J

AU  - Hogg R

AU  - Seeds A

AU  - Liu H

AU  - Ross I

ED  - 

DO  - DOI: 10.1063/1.5011161

PB  - AIP Publishing

VL  - 123

IS  - 21

SP  - 215303

EP  - 215303

Y2  - 2025/01/13

ER  -